UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定， 适用性强

紫外辐照计适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

TES-1330A照度计测量范围：20/200/2000/20000 Lux用于商场、办公室、家庭等场所。

辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强，可以用来测量可见光辐照度，

TES-1339专业级便携照度计可进行光强度测量，扣除杂散光之光源照度测量，时间设定自动锁定测量，有*之资料记录及读值功能 （50组）。